常用工具
医生入驻免费问医生 常用工具医生入驻免费问医生
会上，丰泽区共签约33个项目，总投资328亿元，其中，30个重大项目在现场签约，总投资253亿元，涵盖匹克服装贸易、交发跨境贸易生态园、站前商务区综合体等；星炫时空科技产业园、壹点纳锦（泉州）私募基金扩募、宇极高端发光材料3个项目参加当天上午泉州市民营经济发展大会签约，总投资75亿元。
“过去一年，在社会各界的鼎力支持下，我们奋勇争先、真抓实干，经济总量历史性迈上千亿台阶，核心区建设迈出新的步伐。”丰泽区委书记高金全表示，丰泽将始终秉承亲商、重商、安商、富商的发展理念，为大家选择丰泽、投资丰泽提供最好服务、最优政策、最佳保障。同时期盼各位企业家继续成为丰泽的“城市合伙人”和“城市推荐官”，选择丰泽、扎根丰泽，与丰泽并肩前行、共赢未来！
近年来，丰泽区锚定“五区”建设目标，以“5610”专项行动为抓手，接续实施“抓开放招商 促项目落地”专项行动，一批好项目、大项目接踵而来，为丰泽社会经济发展提供强有力的支撑。
当天，现场还举行2025年度经济贡献大户授牌仪式。丰泽区对工业、建筑业、商贸服务业、房地产业四个行业前5位经济贡献代表，现场颁授牌匾。同时，在总部经济、高新技术、文化旅游等领域，丰泽区聘任第五批招商大使，进一步充实全区招商大使队伍。
现场政企代表带着对新一年发展的期许畅所欲言。源之宇宙（福建）科技有限公司董事长吴克华、福建烟草机械副总经理、壹点纳锦基金负责人吴舫愃、滴滴出行科技有限公司地方事务部高级总监赖加凤、腾远泉音信息科技(泉州)有限公司负责人潘洁霞等企业家代表依次在会上作分享。丰泽区招商专员赖梓莹分别从立足丰泽、深耕丰泽、展望丰泽、选择丰泽、投资丰泽五个方面招商宣传推介，诚邀各位企业家、乡贤等在丰泽这片热土上创新创业、成就梦想。
"> 泉州丰泽：新春招商签约大会召开 33个项目总投资328亿元本文将从技术原理、核心优势、应用场景及落地实践等方面，对该技术进行系统性解析。
一、先进工艺节点的检测挑战与技术缺口
当前半导体制造技术正经历关键变革：鳍式场效应晶体管逐步被全环绕栅极（GAA）纳米带晶体管替代，中段制程（MOL）因多重图形化技术的应用，堆叠复杂度持续增加。这一变革导致致命缺陷多隐匿于 3D 结构内部，传统光学检测手段难以有效识别。
同时，先进工艺节点的缺陷呈现显著的产品特异性，集中分布于特定工艺 - 版图组合的 “热点区域”，此类缺陷由芯片设计固有的版图特征引发，成为影响良率的核心因素。
行业面临的核心矛盾在于：电子束电压衬度检测是识别电学缺陷的关键技术，但传统电子束检测采用光栅扫描模式，效率远低于光学检测，无法匹配大批量生产的需求。DirectScan 技术的出现，为破解这一矛盾提供了可行路径。
二、DirectScan 核心技术架构：PointScan 的创新逻辑
DirectScan 检测方案由eProbe 电子束检测工具、FIRE GDS 版图分析平台及Exensio 大数据智能分析平台三大核心组件构成，其技术突破的核心在于PointScan 扫描技术对传统电子束检测逻辑的重构，主要体现在以下三方面：
1
设计感知驱动的靶向检测
传统电子束检测采用无差别光栅扫描，需覆盖包括介质区域在内的全部区域，且无法识别被测目标的图形特征；PointScan 技术具备非接触式电学测试特性，可精准跳转至目标器件的关键位置（如焊盘、接触点），仅对有效检测区域实施电压衬度检测，完全规避介质区域的无效扫描，实现 “按需检测”。
2
检测效率的量级提升
通过 FIRE 平台的精细化版图分析，可精准筛选出需检测的 “关键区域”，大幅缩减检测范围：
后段制程金属 3 层通孔检测：仅需扫描总可检测面积的 2.5%
中段制程栅极 - 漏极短路检测：仅需扫描总接触点的 1%
栅极残筋检测：可规避 50%-75% 的介质区域，检测面积缩减至传统方案的 10% 以下
基于上述优化，PointScan 技术的检测吞吐量可达传统单束电子束检测设备的 20-100 倍，每小时可完成数十亿个被测器件的扫描。
3
设计感知学习与属性分析能力
DirectScan 与 FIRE 平台的深度整合，可实现跨多层版图的属性提取，包括触点类型（漏极 / 栅极）、晶体管阈值电压、极性、与扩散区隔离槽的距离等关键参数。
eProbe 输出的 KLARF格式数据含专属属性识别码，可与版图特征精准匹配，工程师可直接计算特定属性或属性组合对应的缺陷率，快速定位高风险晶体管类型与版图设计方案，为工艺优化提供数据支撑。
三、高难度场景的应用突破
PointScan 技术的低电荷沉积特性，使其在传统电子束检测难以覆盖的场景中实现突破：
背侧供电网络（BSPDN）晶圆检测
键合晶圆形成的绝缘层会阻碍电荷传导，导致传统电子束检测出现电荷累积、电子束偏折与失焦问题；PointScan 技术大幅降低单位面积电荷沉积量，有效缓解上述问题，已完成实际应用验证。
3D DRAM检测
3D DRAM 的结构特性同样易引发电荷累积，此前检测难度较高，DirectScan 技术的应用使该类器件的精准检测成为可能。
DRAM 阵列短路检测
独有的可控 “充电 - 检测” 功能，可在指定位置施加电荷后跳转至目标区域采集电压衬度信号，使特定岛状节点呈现高亮状态，清晰识别与浮空相邻触点的短路问题，该功能为传统光栅扫描技术所不具备。
四、行业落地实践与全流程应用
自 2022 年初起，eProbe 检测系统已在多家先进逻辑芯片制造工厂落地，目前两套设备投入大批量生产，第三套设备处于产能爬坡阶段，应用场景覆盖半导体制造全流程：
先进逻辑芯片制造
中段制程：GAA 栅极 - 漏极短路、栅极接触孔开路、栅极外延层 / 硅化物层开路检测
后段制程：M0 层、1X 层、2X 层系统性接触孔开路与金属布线短路检测
背侧供电网络：电源通孔、源极 / 漏极通孔接触孔开路与短路检测
随机逻辑电路漏电情况评估
先进 DRAM 制造（2024-2025 年）
外围电路：栅极 - 栅极残筋短路、栅极 - 漏极短路、字线 - 字线短路与开路检测及缺陷定位
存储阵列：基于可控 “充电 - 检测” 技术的存储节点短路检测
技术总结
在半导体制程向更精密 3D 架构演进的背景下，检测技术的创新成为保障良率的关键。DirectScan 方案通过 PointScan 靶向扫描技术、设计感知分析能力与产品特异性缺陷学习功能的融合，在保留电子束检测高灵敏度的基础上，实现了检测吞吐量的量级提升，同时破解了高难度场景的检测难题。
该技术不仅解决了先进工艺节点下缺陷“难识别、难检测” 的问题，更推动半导体检测从 “缺陷识别” 向 “工艺优化赋能” 升级，为下一代半导体制造提供了核心技术支撑和全新路径。
"> DirectScan 技术解析：下一代半导体电子束检测的创新路径与应用答
资产配置新风口，艺术品交易中心打通变现全链路 收藏资讯答
我市多举措严控“三公”经费支出_答
“五一”假期，山西博物院推出两大重磅展览
